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HitachiSII光膜厚测试图片_宏诚_HitachiSII光膜厚测试报价
HitachiSII光膜厚测试产地
转让一台Hitachi SII金属镀层测厚仪，金镍镀层测试仪SFT9300技术参数：
可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi)
X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗
滤波器：一次滤波器：Mo
二次滤波器：Co (自动切换)
照射方式：上方垂直照射方式
检测器：比例计数管
准直器：方型：0.025×0.2mm 0.2×0.025mm
圆形：Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能
样品图像对焦方式：激光自动对焦
样品观察：彩色CCD摄像头倍率光学器 卤素灯照明
样品平台大小及承重:240mm(W) ×170mm(D) 10kg
重量：125kg
产品特点：
75W高功率X射线管
能够提高X射线的生产效率，实现高精度的测量，有效缩短测量时间，只需过去的1/4
超微小型准直器
除了搭载了标准配置的50μm准直器，还配备了测量微小部位用的15μm准直器
对应所选择准直器的实际X射线光束照射的尺寸，可以显示在样品画面上.
倍率式光学系
可以准确地对微小部分进行对焦，还可以对应各测量点间有高低的样品
实现了高精度自动X-Y-Z样品台与图像处理软件的高速自动测量
拥有防冲功能
搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板
自动对焦功能
配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。
即时生成测量报告的便捷性
运用搭载的Microsoft Word? Excel?可以简单轻松得到制作报告。
搭载了高功率X射线管
拥有自动测量软件以及中心搜索软件
搭载了薄膜FP法软件、图像处理软件以及块体FP法软件
1.可实现高精度几高效率的微小样品检测最小样品尺寸直径3.5um
2.容易决定微小测量部位
3.影像对焦系统
4.凹凸样品的凹下部位的测量
5.再现性
地址: 东莞市茶山镇增埗村麒麟城工业区新益大厦宏诚光学（集友工业村对面）
联系人：刘S 13580815224（微信） 传真：0769-23064224 邮箱: 2285449264@qq.com
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